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超快時間分辨光譜測試系統

產品型號：
產品時間：2024-05-20
簡要描述：一套用于皮秒時間分辨的超快熒光測試系統解決方案，為您提供ps-ns-us 量級的超快熒光壽命或超快等離子體衍化過程的快速測量。

產品介紹

系統主要功能指標：

寬光譜測量范圍：UV-VIS-NIR, 200-900nm;
高系統時間分辨率： <=5ps
壽命衰減測量時間范圍：<=50ps—100us
高系統光譜分辨率： <0.1nm
寬單次成譜范圍： >=200nm
靜態（穩態）光譜采集，
瞬態時間分辨光譜圖像及熒光壽命曲線
系統集成整體控制及數據處理軟件

超快時間分辨光譜系統是由光譜儀、超快探測器、耦合光路、系統控制及數據處理軟件組成。光譜儀對入射光信號進行分光，分光光譜耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上，激發出的光電子通過陽極加速，入射到偏轉場中的電極間，此時電壓加在偏轉電極上，光電子被電場偏轉，激射熒光屏，以光信號的形式成像在熒光屏上。轉換后的光信號還可以再通過圖像增強器進行能量放大，并在圖像增強器的熒光屏上成像。最后通過制冷相機采集熒光屏上信號。因為電子的偏轉與其承受的偏轉電場成正比，因此，通過電極的時間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來，也就是將入射光的時間軸轉換成了熒光屏空間軸。系統控制軟件用于整個系統的參數設置、功能切換、數據采集等，圖像工作站用于采集數據處理分析

主要應用方向

超快化學發光
超快物理發光
超快放電過程
超快閃爍體發光
時間分辨熒光光譜，熒光壽命，
半導體材料時間分辨PL譜
鈣鈦礦材料時間分辨PL譜

瞬態吸收譜，時間分辨拉曼光譜測量
光通訊，量子器件的響應測量
自由電子激光，超短激光技術
各種等離子體發光
湯姆遜散射，激光雷達
。。。。。。

光譜儀建議選型參數列表

光譜儀型號	Omni-λ2002i		Omni-λ3004i		Omni-λ5004i		Omni-λ7504i
光譜儀焦距	200mm		320mm		500mm		750mm
相對孔徑	F/3.5		F/4.2		F/6.5		F/9.7
光譜分辨率（1200l/mm）	0.3nm		0.1nm		0.08nm		0.05nm
波長準確度	+/-0.2nm		+/-0.2nm		+/-0.15nm		+/-0.1nm
倒線色散(1200l/mm)	3.6nm/mm		2.3nm/mm		1.7nm/mm		1.1nm/mm
光柵尺寸	50*50mm		68*68mm		68*68mm		68*68mm
光柵臺	雙光柵		三光柵		三光柵		三光柵
與探測器耦合	中繼光路1:1耦合，配合二維焦面精密調節一體化底板
系統光譜分辨率(1200l/mm)	<=0.3nm	<=0.2nm		<=0.1nm		<0.08nm
一次攝譜范圍(150 l/mm)	>230nm	>150nm		>90nm		>60nm
光譜儀入口選項	光纖及光纖接口，標準熒光樣品室，鏡頭收集耦合，共聚焦顯微收集耦合等